Посада: старший науковий співробітник
Вища освіта:
Донецький державний університет (1995);
Кандидат технічних наук (“Обчислювальні машини, системи та мережі”, 2000);
Доцент по кафедрі “Автоматизовані системи управління” (2004);
Доктор технічних наук (“Комп’ютерні системи та компоненти”, 2013).
Науковий ступінь, звання: д.т.н., доцент
Контакти: dmitry.ivanov.iamm@gmail.com
Напрямки досліджень
еволюційні обчислення;
технічна діагностика цифрових пристроїв;
паралельні обчислення.
- Иванов Д.Е. Генетические алгоритмы построения входных идентифицирующих последовательностей цифровых устройств / Д.Е. Иванов. – Донецк, 2012. – 240с.
- E. Ivanov, Parallel Simulation Algorithm of VLSI for Multicore Workstations with Dynamic Faults Grouping / Ivanov D.E. // International Journal of Modeling and Optimization.- Vol.6, No 3, June 2016.- Pp.166-170.
- Иванов Д.Е. Генетический алгоритм построения функциональных тестов арифметико-логических устройств / Ю.А. Скобцов, Д.Е. Иванов, В.Ю. Скобцов // Восточно-Европейский журнал передовых технологий.- 2014.- Том 1, №9(68).- С.9-13.
- Иванов Д.Е. Формальная оценка идентифицирующих последовательностей цифровых устройств / Д.Е. Иванов // Проблемы информационных технологий.- 2014.- №1(15).- С.34-41.
- Иванов Д.Е. Разработка шаблонов эволюционных методов диагностирования цифровых устройств / Д.Е. Иванов // Математические машины и системы.- 2014.- №3.- С.147-157.
- Ivanov D.E. A New Parallel Fault Simulation Algorithm of VLSI for Multicore Workstations / Д.Е. Иванов // “Радіоелектронні і комп’ютерні системи”.- – №5(69).- С.91-95.
- Иванов Д.Е. Методология синтеза эволюционных алгоритмов построения идентифицирующих последовательностей цифровых устройств / Д.Е. Иванов // “Радіоелектронні і комп’ютерні системи”.- 2013.- №5(64).- С.156-161.
- A. Skobtsov, D.E. Ivanov, V.Y. Skobtsov. Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits // Proc. of 8th International Workshop on Boolean Problems, September 18-19, 2008, Freiberg, Germany.- pp.213-218.
- Ivanov D.E., Skobtsov Y.A., El-Khatib. Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits // Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference.-Tallinn Technical University, 2006.- pp.281-284.
